合工大研發(fā)光學(xué)測量領(lǐng)域新方法 為光學(xué)儀器研制添動(dòng)力

合工大研發(fā)光學(xué)測量領(lǐng)域新方法 為光學(xué)儀器研制添動(dòng)力

　　近日，合肥工業(yè)大學(xué)研究人員在光學(xué)測量領(lǐng)域提出一種分析方法，在精密測量中實(shí)現了高階標定模型的計算效率和穩定性的大幅提升。該成果被《測量科學(xué)與技術(shù)》評選為亮點(diǎn)論文。

    條紋投影掃描測量技術(shù)憑借非接觸式測量、測量速度快以及測量精度高等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應用于逆向工程、文物保護等復雜曲面幾何參數的精密測量領(lǐng)域。但由于條紋投影掃描測量技術(shù)需要通過(guò)高階模型進(jìn)行標定，在測量中獲取的各項數據在高階模型中標定較為困難，從而影響了測量結果的穩定性。

    研究人員針對標定模型優(yōu)化、自適應有效點(diǎn)云識別以及相位誤差精確補償等關(guān)鍵問(wèn)題，提出了創(chuàng )新性的解決辦法，從而獲取了高精度的三維輪廓點(diǎn)云。同時(shí)，該團隊提出一種確定高階標定模型中各組成項對重構結果重要性的分析方法，可在測量過(guò)程中識別并剔除對重構結果影響微小的組成項，并通過(guò)優(yōu)化高階標定模型，在保證精度的前提下，提升了高階標定模型的計算效率和穩定性。

    據介紹，該成果可廣泛應用于高精度光學(xué)三維掃描領(lǐng)域。目前，該團隊已在條紋投影測量技術(shù)領(lǐng)域申請4項國家發(fā)明專(zhuān)利。

　編輯點(diǎn)評

新的光學(xué)測量方法不僅能夠實(shí)現高階標定模型的計算效率和穩定性，并且提高了測量速度以及測量精度，能夠為今后光學(xué)測量儀器設備提高技術(shù)上的支持和創(chuàng )新，同時(shí)能夠得到更為精準的分析數據。